การจองคิวเครื่อง SEM

1. ให้ติดต่อเจ้าหน้าที่เพื่อคุยรายละเอียดทาง Line
https://lin.ee/7ZsQZ0x หรือโทร 022188109
2. จากนั้น create order เครื่องตามกำลังขยายที่ใช้ทาง sample-submission-system
3. เมื่อกรอกแล้วให้บอก Order number กับเจ้าหน้าที่ทาง Line https://lin.ee/7ZsQZ0x และส่งตัวอย่างมาที่ STREC Chula พร้อม Order number

 

Scanning Electron Microscope (SEM)

JEOL

Model : JSM-IT500HR, JED-2300

Scanning electron microscopy (SEM) is a powerful technique designed to examine a material’s surface. In SEM, an electron beam with acceleration voltages of up to 30 kV is focused on the specimen. The interactions between the electron beam and the specimen emit signals from the specimen, and detectors collect them. The recorded signals are combined to form an image [1].

Additional EDS is equipped for qualitative and quantitative, mapping and line scan elemental analysis. EDS limitations: no detection of elements below B, X-ray detection limit 1,000 -2,000 ppm (0.1 – 0.2 %wt.) depending on the element and samples must be no fluids.

Introducing a new addition to our JEOL InTouchScope™ series SEMs, the JSM-IT500HR.
Increase your productivity with our fully-integrated software, from specimen navigation to analysis to report creation.
This state-of-the-art SEM, with its high-brightness electron gun system, provides amazing high-resolution imaging along with high sensitivity and high spatial resolution analysis at even faster speeds.