Electron Probe Micro Analyzer – EPMA (JXA-iSP100)
Price
Price | |
Instrument usage per hour | 2400 |
Carbon coating per time | 400 |
Price | |
Instrument usage per hour (Other University) | 4800 |
Carbon coating per time | 400 |
Price | |
Instrument usage per hour (Government) | 5400 |
Carbon coating per time | 400 |
Price | |
Instrument usage per hour (Enterprise) | 6000 |
Carbon coating per time | 400 |
Electron Probe Micro Analyzer – EPMA
JEOL
Model : JXA-iSP100
เป็นเครื่องที่สามารถวิเคราะห์สังเกตเนื้อเยื่อพื้นผิวและสัณฐานวิทยาและการวิเคราะห์ธาตุเฉพาะที่ การใช้เครื่องตรวจจับ เช่น เอ็กซ์เรย์สเปกโตรมิเตอร์แบบกระจายความยาวคลื่น (WDS) และเอ็กซ์เรย์สเปกโตรมิเตอร์แบบอ่อน (SXES) สามารถรับผลการวัดที่มีรายละเอียดมากกว่าเครื่องตรวจจับแบบกระจายพลังงาน (EDS) ที่ใช้กับกล้องจุลทรรศน์อิเล็กตรอนแบบส่องกราด (SEM)
Feature
- กำลังขยายของภาพได้ตั้งแต่ 40 เท่า ถึง 300,000 เท่า
- มี image mode 4 ชนิด คือ SEI, Composition (BSE), Topography และ Cathodoluminescence
- สามารถดูตำแหน่งตัวอย่างที่อยู่ในเครื่องได้
- สามารถวิเคราะห์ธาตุบนพื้นผิวของตัวอย่างได้ทั้ง EDS และ WDS
- สามารถวิเคราะห์องค์ประกอบเชิงปริมาณและเชิงคุณภาพได้
- สามารถทำแผนที่การกระจายตัวของธาตุเพื่อแสดงแผนที่การกระจายตัวของธาตุต่าง ๆ ภายในตัวอย่าง (Mapping Analysis)
- สามารถวัดกระจายของธาตุเชิงเส้นภายในตัวอย่างได้ (Line analysis)
- สามารถตรวจวัดธาตุที่มีความเข้มข้นต่ำ: สามารถตรวจพบธาตุที่มีความเข้มข้นต่ำได้ถึงระดับ ppm.
- ความละเอียดสูงในการวิเคราะห์จุด: สามารถวิเคราะห์องค์ประกอบในพื้นที่ขนาดเล็กมาก (ขนาดจุดประมาณ 1-2 ไมโครเมตร)
Application
สามารถวิเคราะห์ตัวอย่างได้หลากหลายเช่น ตัวอย่างหินและแร่, วัสดุโลหะ,วัสดุเซรามิค,ชีววิทยา,อัญมณี,วัสดุโบราณคดี
Sample
- ตัวอย่างเป็นของแข็ง หน้าขัดมัน ไม่มีความชื้น
- ขนาดกว้าง-ยาวไม่เกิน 2×2 cm.
- ขนาดสูงสุดไม่เกิน 1.5 cm
Staff
นางสาวโศภิต พุ่มพวง
เจ้าหน้าที่บริการวิทยาศาสตร์ (เชี่ยวชาญระดับต้น) P6
Contact
Email : Sopit.p@chula.ac.th
Tel. : 02-218-5446