Electron Probe Micro Analyzer – EPMA (JXA-iSP100)

Price

Price
 Instrument usage per hour 2400
 Carbon coating per time 400
Price
 Instrument usage per hour (Other University) 4800
 Carbon coating per time 400
Price
 Instrument usage per hour (Government) 5400
 Carbon coating per time 400
Price
 Instrument usage per hour (Enterprise) 6000
 Carbon coating per time 400

Electron Probe Micro Analyzer – EPMA

JEOL

Model : JXA-iSP100

เป็นเครื่องที่สามารถวิเคราะห์สังเกตเนื้อเยื่อพื้นผิวและสัณฐานวิทยาและการวิเคราะห์ธาตุเฉพาะที่ การใช้เครื่องตรวจจับ เช่น เอ็กซ์เรย์สเปกโตรมิเตอร์แบบกระจายความยาวคลื่น (WDS) และเอ็กซ์เรย์สเปกโตรมิเตอร์แบบอ่อน (SXES) สามารถรับผลการวัดที่มีรายละเอียดมากกว่าเครื่องตรวจจับแบบกระจายพลังงาน (EDS) ที่ใช้กับกล้องจุลทรรศน์อิเล็กตรอนแบบส่องกราด (SEM)

 

Feature

  • กำลังขยายของภาพได้ตั้งแต่ 40 เท่า ถึง 300,000 เท่า
  • มี image mode 4 ชนิด คือ SEI, Composition (BSE), Topography และ Cathodoluminescence
  • สามารถดูตำแหน่งตัวอย่างที่อยู่ในเครื่องได้
  • สามารถวิเคราะห์ธาตุบนพื้นผิวของตัวอย่างได้ทั้ง EDS และ WDS
  • สามารถวิเคราะห์องค์ประกอบเชิงปริมาณและเชิงคุณภาพได้
  • สามารถทำแผนที่การกระจายตัวของธาตุเพื่อแสดงแผนที่การกระจายตัวของธาตุต่าง ๆ ภายในตัวอย่าง (Mapping Analysis)
  • สามารถวัดกระจายของธาตุเชิงเส้นภายในตัวอย่างได้ (Line analysis)
  • สามารถตรวจวัดธาตุที่มีความเข้มข้นต่ำ: สามารถตรวจพบธาตุที่มีความเข้มข้นต่ำได้ถึงระดับ ppm.
  • ความละเอียดสูงในการวิเคราะห์จุด: สามารถวิเคราะห์องค์ประกอบในพื้นที่ขนาดเล็กมาก (ขนาดจุดประมาณ 1-2 ไมโครเมตร)

Application

สามารถวิเคราะห์ตัวอย่างได้หลากหลายเช่น ตัวอย่างหินและแร่, วัสดุโลหะ,วัสดุเซรามิค,ชีววิทยา,อัญมณี,วัสดุโบราณคดี

Sample

  • ตัวอย่างเป็นของแข็ง หน้าขัดมัน ไม่มีความชื้น
  • ขนาดกว้าง-ยาวไม่เกิน 2×2 cm.
  • ขนาดสูงสุดไม่เกิน 1.5 cm

Staff

นางสาวโศภิต  พุ่มพวง

นางสาวโศภิต พุ่มพวง

เจ้าหน้าที่บริการวิทยาศาสตร์ (เชี่ยวชาญระดับต้น) P6

Contact

Email : Sopit.p@chula.ac.th

Tel. : 02-218-5446