Atomic Force Microscope (AFM)

Price

	Price
Instrument usage per sample	2000
Instrument usage per hour (Authorized User)	2000
Analytical probe per probe	6000

	Price
Instrument usage per sample (Other University)	2800
Instrument usage per hour (Authorized User) (Other University)	2800
Analytical probe per probe	6000

	Price
Instrument usage per sample (Government)	3200
Instrument usage per hour (Authorized User) (Government)	3200
Analytical probe per probe	6000

	Price
Instrument usage per sample (Enterprise)	3600
Instrument usage per hour (Authorized User) (Enterprise)	3600
Analytical probe per probe	6000

Sample Submission - ส่งตัวอย่างวิเคราะห์

Atomic Force Microscope

HORIBA

Model : XploRA Nano

ใช้หลักการการผ่านแสงเลเซอร์ไปให้กับส่วนปลายแหลม (tip) ของคานยื่นที่มีขนาดระดับอะตอมในระยะใกล้ ซึ่งส่วนปลายแหลมของคานนั้นจะไปสัมผัสแบบกระดกในทิศทางขึ้นและลงกับพื้นผิวของวัตถุ และเมื่อเครื่อง AFM ลากส่วนปลายแหลมผ่านโครงสร้างระดับนาโน แรงปฏิกิริยาที่กระทำในแนวตั้งฉากที่เกิดขึ้นระหว่างอะตอมของพื้นผิวกับปลายแหลมจะดึงคาน ทำให้คานโก่งงอตัว ทำให้สามารถตรวจวัดขนาดของแรงเชิงปฏิสัมพันธ์ ระหว่างความสัมพันธ์เชิงตำแหน่งของส่วนปลายแหลมและพื้นผิวของวัตถุ (ทำให้สามารถทราบถึงระดับพลังงานที่เกิดขึ้นได้) ซึ่งจะถูกนำมาแปรสัญญาณร่วมกันเพื่อนำมาสร้างเป็นภาพพื้นผิวที่เป็นลักษณะเชิงโครงสร้างระดับอะตอม ที่มีกำลังการขยายสูงไปแสดงบนจอภาพที่เป็นมอนิเตอร์

More Info

Feature

ประกอบด้วยโพรบ (Scanning Probe Microscopy – SPM) และกล้องจุลทรรศน์รามาน (Raman Micro-spectrometry) สามารถให้ข้อมูลทั้งในด้านรูปร่างพื้นผิวและข้อมูลทางเคมีในระดับนาโนสเกล

SPM Scanner

Sample scanning range: 100 µm x 100 µm x 15 µm
Sample size: Maximum 40 x 50 mm, 15 mm thickness
Positioning resolution: 1 µm

2. AFM Head

Non-contact AFM: การวัดโดยใช้โพรบที่ไม่สัมผัสกับพื้นผิวโดยตรง แต่ใช้แรงระหว่างอะตอมในการวัด
Semi-contact AFM: การวัดโดยใช้โพรบที่สัมผัสพื้นผิวเพียงบางส่วนในสภาวะอากาศ
Contact AFM: การวัดโดยใช้โพรบสัมผัสกับพื้นผิวโดยตรงในสภาวะอากาศ
Tip-Enhanced Raman Spectroscopy (TERS): การวัดสเปกตรัมรามานที่เพิ่มประสิทธิภาพด้วยปลายโพรบ โดยใช้โหมดการวัดใน AFM (Atomic Force Microscopy),STM (Scanning Tunneling Microscopy) และแรงเฉือน (shear force modes) เพื่อเพิ่มสัญญาณรามานและความละเอียดในระดับนาโน

Spectrometer

Wavelength range: 100 cm^-1to 4000 cm^-1
Laser Sources Typical wavelength: 532 nm, 638 nm and 785 nm

Application

Nano materials , Nano particles, Graphene, Carbon Nanotubes ฯลฯ

Sample

ตัวอย่างต้องเตรียมบนชิ้นงานที่พิ้นผิวเรียบ เช่น Mica plate หรือ Microscope Slides ขนาด กว้าง 10 mm x ยาว 10 mm x ความหนาของตัวอย่างไม่เกิน 15 µm (ไม่ควรเตรียมบนชิ้นงานที่มีความขรุขระ เช่น แผ่นโลหะ หรือวัสดุที่มีการขัด หรือเคลือบผิว)

Staff

นางสาวแก้ว ขจรไชยกุล

เจ้าหน้าที่บริการวิทยาศาสตร์ P6

Contact

Email : Kaew.K@chula.ac.th

Tel. : 0-2218-8034