Micro X-ray Fluorescence Spectrometer – XRF (M4 Tornado plus)
Price
| Price | |
| Instrument usage per hour | 1260 |
| Sample preparation per sample | 85 |
| Sample Preparation using film per sample | 385 |
| Sample grinding and compression per sample | 385 |
| Qualitative analysis per sample | 385 |
| Semi-quantitative or Quantitative analysis per element | 105 |
| WDX Elemental analysis Semi-quantitative In the pressed example pellet per sample | 910 |
| WDX Elemental analysis Semi-quantitative in He mode per sample | 1050 |
| EDX Elemental analysis Semi-quantitative In the pressed example pellet per sample | 560 |
| EDX Elemental analysis Semi-quantitative in He mode per sample | 700 |
| Micro Instrument usage for 1st spot | 1050 |
| Micro Instrument usage for next spot | 490 |
| Micro Instrument usage for Helium system per hour | 700 |
| Micro Sample Preparation using film per sample | 175 |
| Price | |
| Instrument usage per hour (Other University) | 1440 |
| Sample preparation per sample (Other University) | 95 |
| Sample Preparation using film per sample (Other University) | 440 |
| Sample grinding and compression per sample (Other University) | 440 |
| Qualitative analysis per sample (Other University) | 440 |
| Semi-quantitative or Quantitative analysis per element (Other University) | 120 |
| WDX Elemental analysis Semi-quantitative In the pressed example pellet per sample (Other University) | 1040 |
| WDX Elemental analysis Semi-quantitative in He mode per sample (Other University) | 1200 |
| EDX Elemental analysis Semi-quantitative In the pressed example pellet per sample (Other University) | 640 |
| EDX Elemental analysis Semi-quantitative in He mode per sample (Other University) | 800 |
| Micro Instrument usage for 1st spot (Other University) | 1200 |
| Micro Instrument usage for next spot (Other University) | 560 |
| Micro Instrument usage for Helium system per hour (Other University) | 800 |
| Micro Sample Preparation using film per sample (Other University) | 200 |
| Price | |
| Instrument usage per hour (Government) | 1620 |
| Sample preparation per sample (Government) | 110 |
| Sample Preparation using film per sample (Government) | 495 |
| Sample grinding and compression per sample (Government) | 495 |
| Qualitative analysis per sample (Government) | 495 |
| Semi-quantitative or Quantitative analysis per element (Government) | 135 |
| WDX Elemental analysis Semi-quantitative In the pressed example pellet per sample (Government) | 1170 |
| WDX Elemental analysis Semi-quantitative in He mode per sample (Government) | 1350 |
| EDX Elemental analysis Semi-quantitative In the pressed example pellet per sample (Government) | 720 |
| EDX Elemental analysis Semi-quantitative in He mode per sample (Government) | 900 |
| Micro Instrument usage for 1st spot (Government) | 1350 |
| Micro Instrument usage for next spot (Government) | 630 |
| Micro Instrument usage for Helium system per hour (Government) | 900 |
| Micro Sample Preparation using film per sample (Government) | 225 |
| Price | |
| Instrument usage per hour (Enterprise) | 1800 |
| Sample preparation per sample (Enterprise) | 120 |
| Sample Preparation using film per sample (Enterprise) | 550 |
| Sample grinding and compression per sample (Enterprise) | 550 |
| Qualitative analysis per sample (Enterprise) | 550 |
| Semi-quantitative or Quantitative analysis per element (Enterprise) | 150 |
| WDX Elemental analysis Semi-quantitative In the pressed example pellet per sample (Enterprise) | 1300 |
| WDX Elemental analysis Semi-quantitative in He mode per sample (Enterprise) | 1500 |
| EDX Elemental analysis Semi-quantitative In the pressed example pellet per sample (Enterprise) | 800 |
| EDX Elemental analysis Semi-quantitative in He mode per sample (Enterprise) | 1000 |
| Micro Instrument usage for 1st spot (Enterprise) | 1500 |
| Micro Instrument usage for next spot (Enterprise) | 700 |
| Micro Instrument usage for Helium system per hour (Enterprise) | 1000 |
| Micro Sample Preparation using film per sample (Enterprise) | 250 |
Micro X-ray Fluorescence Spectrometer – XRF
Bruker
Model : M4 Tornado plus
การทำให้อะตอมของธาตุในตัวอย่างปลดปล่อยรังสีเอกซ์ออกมา แต่ละธาตุจะปลดปล่อยรังสีเอกซ์ที่มีค่าพลังงานจำเพาะและแตกต่างกัน เมื่อวิเคราะห์สเปกตรัมรังสีเอกซ์ที่ได้จากตัวอย่าง โดยตัวอย่างอยู่บนแท่นวางที่สามารถปรับค่าในแนวแกนทั้งสามคือ x y z ได้ มีกล้องแสดงภาพตัวอย่างที่อยู่ภายใน ช่วยในการกำหนดตำแหน่งที่ต้องการวัดบนตัวอย่าง สามารถทำการทดสอบได้ทั้งแบบ point, multi-point, ทำ line scan หรือ area scan เพื่อดูการกระจายของธาตุบนตัวอย่างตามแนวเส้นตรง หรือพื้นที่ ที่สนใจ เครื่องมือมีช่วงการทดสอบธาตุตั้งแต่ คาร์บอนถึงยูเรเนียม (C-U)
การวัดความเข้มของรังสีเอกซ์ที่พลังงานค่าต่าง ๆ กัน ทำให้สามารถระบุได้ว่ามีธาตุใดเป็นองค์ประกอบ และมีในปริมาณมายน้อยเท่าใดในตัวอย่างนั้น
Feature
ตัวอย่างจะอยู่บนแท่นวางที่สามารถปรับค่าในแนวแกนทั้งสามคือ x y z ได้ มีกล้องแสดงภาพตัวอย่างที่อยู่ภายใน ช่วยในการกำหนดตำแหน่งที่ต้องการวัดบนตัวอย่าง สามารถทำการทดสอบได้ทั้งแบบ point, multi-point, ทำ line scan หรือ area scan เพื่อดูการกระจายของธาตุบนตัวอย่างตามแนวเส้นตรง หรือพื้นที่ ที่สนใจ เครื่องมือมีช่วงการทดสอบธาตุตั้งแต่ คาร์บอนถึงยูเรเนียม (C-U)
Application
- เป็นเครื่องมือที่สามารถทำการทดสอบได้ทั้งตัวอย่างที่เป็นของแข็งและของเหลว
- สามารถทดสอบตัวอย่างที่มีขนาดเล็กหรือบริเวณจุดเล็ก ๆ ที่สนใจบนตัวอย่าง โดยอาจไม่จำเป็นต้องเตรียมหรือทำลายตัวอย่างเลย เช่นตัวอย่างที่เป็นวัตถุโบราณ โลหะมีค่า งานศิลปะ
- สำหรับตัวอย่างที่ไม่เป็นเนื้อเดียวกัน สามารถดูการกระจายตัวของธาตุในตัวอย่างได้ เช่น
- ตัวอย่างแร่
- ดูการสะสมของแร่ธาตุหรือโลหะหนัก ตามส่วนต่าง ๆ ในใบไม้ รากไม้
- ดู Elemental Mapping บน Printed Circuit Board
ปัจจัยควรคำนึงถึง
- ไม่เป็นกรด-ด่างรุนแรง ไม่เป็นพวกโลหะหนักที่มีความเป็นพิษสูงและฟุ้งกระจายได้ง่าย
- การทดสอบตัวอย่างและหาค่าธาตุเชิงปริมาณ ทำโดยใช้โปรแกรมจากผู้ผลิตเครื่องมือ ไม่ได้ใช้ standard curve ที่สร้างจากสารมาตรฐานขึ้นมา
Sample
- สามารถทดสอบตัวอย่างที่มีขนาดใหญ่ไม่เกิน 30 ซมx40 ซมx10 ซม (กว้างxยาวxสูง) ได้โดยไม่ต้องเตรียมตัวอย่าง แต่ทั้งนี้ต้องพิจารณาในรายละเอียดเป็นรายกรณีไป
- ถ้าต้องการวัดในภาวะสุญญากาศ ตัวอย่างต้องไม่มีความชื้นหรือสารระเหยเป็นไอออกมา
Staff
นายสมบูรณ์ เหรียญภูมิการกิจ
เจ้าหน้าที่บริการวิทยาศาสตร์ P7
Contact
Email : Somboon.Rh@chula.ac.th
Tel. : 0-2218-8033