X-ray Fluorescence Spectrometer WDS – XRF (S8 Tiger)
Price
| Price | |
| Instrument usage per hour | 1260 |
| Sample preparation per sample | 85 |
| Sample Preparation using film per sample | 385 |
| Sample grinding and compression per sample | 385 |
| Qualitative analysis per sample | 385 |
| Semi-quantitative or Quantitative analysis per element | 105 |
| WDX Elemental analysis Semi-quantitative In the pressed example pellet per sample | 910 |
| WDX Elemental analysis Semi-quantitative in He mode per sample | 1050 |
| EDX Elemental analysis Semi-quantitative In the pressed example pellet per sample | 560 |
| EDX Elemental analysis Semi-quantitative in He mode per sample | 700 |
| Micro Instrument usage for 1st spot | 1050 |
| Micro Instrument usage for next spot | 490 |
| Micro Instrument usage for Helium system per hour | 700 |
| Micro Sample Preparation using film per sample | 175 |
| Price | |
| Instrument usage per hour (Other University) | 1440 |
| Sample preparation per sample (Other University) | 95 |
| Sample Preparation using film per sample (Other University) | 440 |
| Sample grinding and compression per sample (Other University) | 440 |
| Qualitative analysis per sample (Other University) | 440 |
| Semi-quantitative or Quantitative analysis per element (Other University) | 120 |
| WDX Elemental analysis Semi-quantitative In the pressed example pellet per sample (Other University) | 1040 |
| WDX Elemental analysis Semi-quantitative in He mode per sample (Other University) | 1200 |
| EDX Elemental analysis Semi-quantitative In the pressed example pellet per sample (Other University) | 640 |
| EDX Elemental analysis Semi-quantitative in He mode per sample (Other University) | 800 |
| Micro Instrument usage for 1st spot (Other University) | 1200 |
| Micro Instrument usage for next spot (Other University) | 560 |
| Micro Instrument usage for Helium system per hour (Other University) | 800 |
| Micro Sample Preparation using film per sample (Other University) | 200 |
| Price | |
| Instrument usage per hour (Government) | 1620 |
| Sample preparation per sample (Government) | 110 |
| Sample Preparation using film per sample (Government) | 495 |
| Sample grinding and compression per sample (Government) | 495 |
| Qualitative analysis per sample (Government) | 495 |
| Semi-quantitative or Quantitative analysis per element (Government) | 135 |
| WDX Elemental analysis Semi-quantitative In the pressed example pellet per sample (Government) | 1170 |
| WDX Elemental analysis Semi-quantitative in He mode per sample (Government) | 1350 |
| EDX Elemental analysis Semi-quantitative In the pressed example pellet per sample (Government) | 720 |
| EDX Elemental analysis Semi-quantitative in He mode per sample (Government) | 900 |
| Micro Instrument usage for 1st spot (Government) | 1350 |
| Micro Instrument usage for next spot (Government) | 630 |
| Micro Instrument usage for Helium system per hour (Government) | 900 |
| Micro Sample Preparation using film per sample (Government) | 225 |
| Price | |
| Instrument usage per hour (Enterprise) | 1800 |
| Sample preparation per sample (Enterprise) | 120 |
| Sample Preparation using film per sample (Enterprise) | 550 |
| Sample grinding and compression per sample (Enterprise) | 550 |
| Qualitative analysis per sample (Enterprise) | 550 |
| Semi-quantitative or Quantitative analysis per element (Enterprise) | 150 |
| WDX Elemental analysis Semi-quantitative In the pressed example pellet per sample (Enterprise) | 1300 |
| WDX Elemental analysis Semi-quantitative in He mode per sample (Enterprise) | 1500 |
| EDX Elemental analysis Semi-quantitative In the pressed example pellet per sample (Enterprise) | 800 |
| EDX Elemental analysis Semi-quantitative in He mode per sample (Enterprise) | 1000 |
| Micro Instrument usage for 1st spot (Enterprise) | 1500 |
| Micro Instrument usage for next spot (Enterprise) | 700 |
| Micro Instrument usage for Helium system per hour (Enterprise) | 1000 |
| Micro Sample Preparation using film per sample (Enterprise) | 250 |
X-ray Fluorescence Spectrometer WDS – XRF
Bruker
Model : S8 Tiger
หลักการคือการทำให้อะตอมของธาตุในตัวอย่างปลดปล่อยรังสีเอกซ์ออกมา แต่ละธาตุจะให้รังสีเอกซ์ที่มีค่าความยาวคลื่นจำเพาะและแตกต่างกัน เมื่อทำการวิเคราะห์สเปกตรัมรังสีเอกซ์ที่ได้จากตัวอย่าง โดยแยกแต่ละค่าความยาวคลื่นด้วยผลึกที่เหมาะสม และวัดความเข้มของรังสีเอกซ์ที่ให้ออกมา ทำให้สามารถระบุได้ว่าในตัวอย่างนั้นมีธาตุใดเป็นองค์ประกอบ และมีในปริมาณมายน้อยเท่าใด เครื่องมือมีช่วงการทดสอบธาตุตั้งแต่ ฟลูออรีนถึงยูเรเนียม (F-U)
Feature
เป็นเครื่องมือทดสอบตัวอย่างจำพวกสารอนินทรีย์ เพื่อดูชนิดและปริมาณของธาตุที่เป็นองค์ประกอบในตัวอย่าง สามารถทำการทดสอบตัวอย่างที่เป็นเนื้อเดียวกัน ได้ทั้งที่เป็นของแข็งและของเหลว เช่น โลหะ โลหะผสม ตัวอย่างทางธรณีวิทยา แร่ต่าง ๆ ตัวอย่างทางปิโตรเคมีเช่น น้ำมัน สารหล่อลื่น ตัวเร่งปฏิกิริยา เถ้าลอย ขี้เถ้าจากการเผา ตะกรันและตะกอนต่าง ๆ เป็นต้น
Application
- ตัวอย่างโลหะหรือของแข็งที่สามารถขึ้นรูปได้: ตัด ขัดหรือกลึงให้ด้านที่จะทดสอบ มีผิวหน้าเรียบและสะอาด ขนาดเส้นผ่านศูนย์กลางประมาณ 40 ม.ม. (หรืออย่างน้อย 10 ม.ม.) หนาอย่างน้อย 5 ม.ม.
- ตัวอย่างที่เป็นผง: อบตัวอย่างให้แห้ง ไม่มีความชื้นหรือสารระเหยเป็นไอออกมาเมื่ออยู่ในสภาวะสุญญากาศ สามารถบดให้ละเอียดเป็นเนื้อเดียวกันได้ โดยในการเตรียมอาจต้องผสมตัวอย่างกับสารช่วยยึดเกาะเพื่ออัดตัวอย่างขึ้นรูป ใช้ตัวอย่างประมาณ 10-20 กรัม (อย่างน้อยที่สุดคือ 1 กรัม)
- ตัวอย่างของเหลว: ไม่มีตะกอน ไม่เป็นกรด-ด่างรุนแรง ใช้ตัวอย่างประมาณ 10 มิลลิลิตร
Sample
- ตัวอย่างที่จะทดสอบต้องเป็นเนื้อเดียวกัน หรือสามารถทำให้เป็นเนื้อเดียวกันได้โดยการบดผสมให้เป็นเนื้อเดียวกัน
- ถ้าเป็นของเหลวต้องไม่ตกตะกอนหรือแยกชั้นระหว่างทำการทดสอบ
- ไม่เป็นกรด-ด่างรุนแรง ไม่เป็นพวกโลหะหนักที่มีความเป็นพิษสูงและฟุ้งกระจายได้ง่าย
- การทดสอบอาจมีผลกระทบต่อตัวอย่างที่ไวต่ออุณหภูมิได้ เนื่องจากระหว่างทดสอบมีความร้อนสะสมเกิดขึ้นกับตัวอย่าง
- การทดสอบตัวอย่างและหาค่าของธาตุเชิงปริมาณ ทำโดยใช้โปรแกรมจากผู้ผลิตเครื่องมือ ไม่ได้ใช้ standard curve ที่สร้างจากสารมาตรฐานขึ้นมา
Staff
นายสมบูรณ์ เหรียญภูมิการกิจ
เจ้าหน้าที่บริการวิทยาศาสตร์ P7
Contact
Email : Somboon.Rh@chula.ac.th
Tel. : 0-2218-8033