X-Ray Diffractometer (XRD)
Price
| Price | |
| Measurement Powder diffractogram per sample | 700 |
| Phase identification analysis per sample | 560 |
| Phase Quantitative analysis per sample | 1400 |
| Quantitative Crystallinity | 560 |
| Measurement Diffractogram per sample per temp | 1400 |
| Measurement Diffractogram per sample (SAX-XRR-HRXRD-GID) | 1400 |
| Analysis data per sample (SAX) | 700 |
| Measurement Diffractogram per hour (XRR-HRXRD) | 1400 |
| Analysis data per sample (XRR-HRXRD-Stress) | 1400 |
| Measurement Diffractogram per sample (Stress-Texture) | 2450 |
| Qualitative Analysis data per sample (Texture) | 1400 |
| Quantitative Analysis data per sample (Texture) | 1400 |
| Price | |
| Measurement Powder diffractogram per sample (Other University) | 800 |
| Phase identification analysis per sample (Other University) | 640 |
| Phase Quantitative analysis per sample (Other University) | 1600 |
| Quantitative Crystallinity (Other University) | 640 |
| Measurement Diffractogram per sample per temp (Other University) | 1600 |
| Measurement Diffractogram per sample (SAX-XRR-HRXRD-GID) (Other University) | 1600 |
| Analysis data per sample (SAX) (Other University) | 800 |
| Measurement Diffractogram per hour (XRR-HRXRD) (Other University) | 1600 |
| Analysis data per sample (XRR-HRXRD-Stress) (Other University) | 1600 |
| Measurement Diffractogram per sample (Stress-Texture) (Other University) | 2800 |
| Qualitative Analysis data per sample (Texture) (Other University) | 1600 |
| Quantitative Analysis data per sample (Texture) (Other University) | 1600 |
| Price | |
| Measurement Powder diffractogram per sample (Government) | 900 |
| Phase identification analysis per sample (Government) | 720 |
| Phase Quantitative analysis per sample (Government) | 1800 |
| Quantitative Crystallinity (Government) | 720 |
| Measurement Diffractogram per sample per temp (Government) | 1800 |
| Measurement Diffractogram per sample (SAX-XRR-HRXRD-GID) (Government) | 1800 |
| Analysis data per sample (SAX) (Government) | 900 |
| Measurement Diffractogram per hour (XRR-HRXRD) (Government) | 1800 |
| Analysis data per sample (XRR-HRXRD-Stress) (Government) | 1800 |
| Measurement Diffractogram per sample (Stress-Texture) (Government) | 3150 |
| Qualitative Analysis data per sample (Texture) (Government) | 1800 |
| Quantitative Analysis data per sample (Texture) (Government) | 1800 |
| Price | |
| Measurement Powder diffractogram per sample (Enterprise) | 1000 |
| Phase identification analysis per sample (Enterprise) | 800 |
| Phase Quantitative analysis per sample (Enterprise) | 2000 |
| Quantitative Crystallinity (Enterprise) | 800 |
| Measurement Diffractogram per sample per temp (Enterprise) | 2000 |
| Measurement Diffractogram per sample (SAX-XRR-HRXRD-GID) (Enterprise) | 2000 |
| Analysis data per sample (SAX) (Enterprise) | 1000 |
| Measurement Diffractogram per hour (XRR-HRXRD) (Enterprise) | 2000 |
| Analysis data per sample (XRR-HRXRD-Stress) (Enterprise) | 2000 |
| Measurement Diffractogram per sample (Stress-Texture) (Enterprise) | 3500 |
| Qualitative Analysis data per sample (Texture) (Enterprise) | 2000 |
| Quantitative Analysis data per sample (Texture) (Enterprise) | 2000 |
X-Ray Diffractometer (XRD)
Bruker
Model : D8 Discover
X-Ray Diffractometer : XRD เครื่องมือที่ใช้ในการวิเคราะห์โครงสร้างผลึกของสารโดยอาศัยหลักการของการเลี้ยวเบนรังสีเอกซ์ (X-ray diffraction) ซึ่ง Diffrcatogram ที่ได้จากลักษณะการเลี้ยวเบนจะบ่งบอกถึงโครงสร้างผลึกของสาร ทำให้สามารถระบุชนิดของสารที่มีโครงสร้างผลึกแบบต่าง ๆ วิเคราะห์การจัดเรียงตัวของอะตอมในตัวอย่าง และการศึกษาการเปลี่ยนแปลงโครงสร้างในวัสดุต่างๆได้
รายละเอียดของเครื่อง X-Ray Diffractometer (XRD) Bruker รุ่น D8 Discover
- X-ray Tube : Cu 1.5418 Aํ
- Detector : Eiger_2R 250K
- Voltage : 40 kV, Current : 40 mA
- Database : PDF-2 และ PDF-4
Feature
- Powder X-ray diffraction
- Grazing incidence diffraction
- X-Ray Reflectometry
- High resolution X-ray diffraction
Application
Powder X-ray diffraction
- วิเคราะห์ Diffractogram
- วิเคราะห์สารประกอบ (Phase) ในเชิงคุณภาพและเชิงปริมาณ
- วิเคราะห์ %Crystallinity และ %Amorphous
X-Ray Reflactometry (XRR)
- วิเคราะห์ Thin film เช่น Tickness, Roughness, Density
Sample
สารเคมี, ตัวเร่งปฏิกิริยา (catalyst), ดิน, ตะกอน, เถ้า (fly ash), คอนกรีต, ยา, ฟัน, แผ่นโลหะ, พอลิเมอร์ ฟิล์มบาง เป็นต้น
ลักษณะตัวอย่าง
- ของแข็งชนิดผงละเอียด ปริมาณ 0.5 กรัมขึ้นไป (หากตัวอย่างมีปริมาณน้อยมาก สามารถวิเคราะห์ได้โดยใช้ Holder แบบ Zero Background แต่ Intensity จะค่อนข้างต่ำ)
- ของแข็งชนิดแผ่น, ฟิล์มบางบนกระจก, ตัวอย่างที่ดรอปหรือเตรียมบนกระจก หรือ Microscope slide หรือ FTO Glass
ขนาดกว้างxยาว น้อยกว่าด้านละ 3 เซนติเมตร ต้องมีความหนาไม่เกิน 0.9 เซนติเมตร
ขนาดกว้างxยาว ของด้านใดด้านหนึ่งมากกว่า 3 เซนติเมตร ต้องมีความหนาไม่เกิน 1.2 มิลลิเมตร
Staff
นางสาวจิราพัชร ประเสริฐทรัพย์
เจ้าหน้าที่บริการวิทยาศาสตร์ P7
นางสาวปริศนา แสงขำ
เจ้าหน้าที่บริการวิทยาศาสตร์ P7
Contact
ผู้วิเคราะห์ : นางสาวจิราพัชร ประเสริฐทรัพย์
E-mail : Jirapat.pr@chula.ac.th
Tel. : 02-218-8243
ผู้วิเคราะห์ : นางสาวปริศนา แสงขำ
E-mail : prissana.sa@chula.ac.th
Tel. : 02-218-88108