Transmission electron microscopy – TEM (Talos F 200X Gen2 )
Price
| Price | |
| 1400 Instrument usage per hour | 2000 |
| Ion milling per sample | 3000 |
| Powder or solution preparation (not include grid) per sample | 50 |
| Formvar – carbon film on copper grid per sheet | 170 |
| Negative stain per sample (2 grids) | 600 |
| Plastic block (with OsO4) per sample | 4400 |
| Plastic block (without OsO4) per sample | 1470 |
| Sectioning (up to 3 grids) per sample | 1300 |
| Fume with OsO4 vapor per sample | 900 |
| 1400 Instrument usage per half hour | 1000 |
| F200X Instrument usage per hour | 2450 |
| F200X Instrument usage per half hour | 1225 |
| Photo per shot | 50 |
| Qualitative analysis (1 spot) per sample | 350 |
| Mapping Element (1 area) per sample | 500 |
| Energy loss spectroscopy (EELS) | 1000 |
| Carbon film on copper grid per sheet | 180 |
| Glass petri-dish per pair | 100 |
| Plastic petri-dish per pair | 60 |
| Grid box per box | 200 |
| Price | |
| 1400 Instrument usage per hour (Other University) | 2200 |
| Ion milling per sample (Other University) | 3000 |
| Powder or solution preparation (not include grid) per sample (Other University) | 60 |
| Formvar – carbon film on copper grid per sheet (Other University) | 180 |
| Negative stain per sample (2 grids) (Other University) | 675 |
| Plastic block (with OsO4) per sample (Other University) | 5000 |
| Plastic block (without OsO4) per sample (Other University) | 1680 |
| Sectioning (up to 3 grids) per sample (Other University) | 1480 |
| Fume with OsO4 vapor per sample (Other University) | 990 |
| 1400 Instrument usage per half hour (Other University) | 1100 |
| F200X Instrument usage per hour (Other University) | 2800 |
| F200X Instrument usage per half hour (Other University) | 1400 |
| Carbon film on copper grid per sheet (Other University) | 190 |
| Qualitative analysis (1 spot) per sample | 350 |
| Mapping Element (1 area) per sample | 500 |
| Energy loss spectroscopy (EELS) | 1000 |
| Carbon film on copper grid per sheet | 180 |
| Glass petri-dish per pair | 100 |
| Plastic petri-dish per pair | 60 |
| Grid box per box | 200 |
| Price | |
| 1400 Instrument usage per hour (Government) | 2400 |
| Ion milling per sample (Government) | 3000 |
| Powder or solution preparation (not include grid) per sample (Government) | 70 |
| Formvar – carbon film on copper grid per sheet (Government) | 190 |
| Negative stain per sample (2 grids) (Government) | 750 |
| Plastic block (with OsO4) per sample (Government) | 5600 |
| Plastic block (without OsO4) per sample (Government) | 1890 |
| Sectioning (up to 3 grids) per sample (Government) | 1660 |
| Fume with OsO4 vapor per sample (Government) | 1080 |
| 1400 Instrument usage per half hour (Government) | 1200 |
| F200X Instrument usage per hour (Government) | 3150 |
| F200X Instrument usage per half hour (Government) | 1575 |
| Carbon film on copper grid per sheet (Government) | 200 |
| Qualitative analysis (1 spot) per sample | 350 |
| Mapping Element (1 area) per sample | 500 |
| Energy loss spectroscopy (EELS) | 1000 |
| Carbon film on copper grid per sheet | 180 |
| Glass petri-dish per pair | 100 |
| Plastic petri-dish per pair | 60 |
| Grid box per box | 200 |
| Price | |
| 1400 Instrument usage per hour (Enterprise) | 2600 |
| Ion milling per sample (Enterprise) | 3000 |
| Powder or solution preparation (not include grid) per sample (Enterprise) | 80 |
| Formvar – carbon film on copper grid per sheet (Enterprise) | 210 |
| Negative stain per sample (2 grids) (Enterprise) | 825 |
| Plastic block (with OsO4) per sample (Enterprise) | 6200 |
| Plastic block (without OsO4) per sample (Enterprise) | 2100 |
| Sectioning (up to 3 grids) per sample (Enterprise) | 1840 |
| Fume with OsO4 vapor per sample (Enterprise) | 1170 |
| 1400 Instrument usage per half hour (Enterprise) | 1300 |
| F200X Instrument usage per hour (Enterprise) | 3500 |
| F200X Instrument usage per half hour (Enterprise) | 1750 |
| Carbon film on copper grid per sheet (Enterprise) | 240 |
| Qualitative analysis (1 spot) per sample | 350 |
| Mapping Element (1 area) per sample | 500 |
| Energy loss spectroscopy (EELS) | 1000 |
| Carbon film on copper grid per sheet | 180 |
| Glass petri-dish per pair | 100 |
| Plastic petri-dish per pair | 60 |
| Grid box per box | 200 |
Transmission electron microscopy – TEM
Thermo Fisher Scientific
Model : Talos F 200X Gen2
กล้องจุลทรรศน์อิเล็กตรอนชนิดส่องผ่านเป็นเครื่องมือสำหรับวิเคราะห์ลักษณะโครงสร้างของตัวอย่างโดยการถ่ายภาพกล้องจุลทรรศน์อิเล็กตรอนชนิดส่องผ่านประกอบด้วย electron gun, magnetic lens และfluorescece screen โดย electron gun จะปลดปล่อยอิเล็กตรอนจาก filament ที่ถูกทำให้ร้อนโดยการใช้กระแสไฟฟ้าหลังจากนั้นอิเล็กตรอนจะถูกเร่งด้วยความต่างศักย์สูงในช่วงประมาณ 80 ถึง 200 กิโลโวลต์ ทำให้อิเล็กตรอนมีพลังงานเพียงพอที่จะทะลุผ่านตัวอย่างได้ ลำอิเล็กตรอนนี้จะเคลื่อนที่ผ่านเลนส์ชุดแรกที่จะทำหน้าที่รวบรวมอิเล็กตรอนและฉายลงบนตัวอย่าง(Condenser lens) หลังจากที่อิเล็กตรอนกระทบตัวอย่างจะเกิด interaction กับตัวอย่างได้เป็นอิเล็กตรอน 2 กลุ่มคือกลุ่มที่เคลื่อนที่ผ่านตัวอย่างโดยไม่มีการเลี้ยวเบน (Transmission beam) และกลุ่มที่มีการเลี้ยวเบน (Diffraction beam) อิเล็กตรอนทั้ง 2 กลุ่มนี้จะเคลื่อนที่มายัง objective lens แล้วถูกสร้างเป็นภาพ bright-field image, dark-field image และ electron diffraction pattern
Feature
- สามารถถ่ายกำลังขยาย(HR) สูงสุด 1.05 ล้านเท่า ความละเอียด 4kx4k
- สามารถถ่ายภาพในโหมด STEM HAADF
- สามารถถ่ายภาพตัวอย่างที่มีสถาพความเป็นแม่เหล็ก
- สามารถถ่ายภาพ Tomography แบบ สามมิติ 3D
- สามารถวิเคราะห์ธาตุและMapping ธาตุ
- สามารถวิเคระห์โดยเทคนิค Selected area electron diffraction (SAED)
Application
สามารถถ่ายภาพโครงสร้างด้วยกำลังสุง 1.05 ล้านเท่า High Resolution image (HR) สามารถวิเคราะห์ตัวอย่างที่เป็นของแข็งพื่อศึกษาลักษณะการจัดเรียงตัวของอะตอมสำหรับกรณีที่ตัวอย่างมีโครงสร้างผลึกและศึกษาการกระจายตัวของธาตุที่กระจายอยู่ภายในตัวอย่าง
Sample
ขนาดตัวอย่างที่เหมาะสม ความหนาไม่เกิน 100 นาโนเมตร
ตัวอย่างต้องไม่มีความชื้น ปราศจากน้ำมัน
ตัวอย่างผงใช้เพียง 1 g หรือน้อยกว่า
Staff
นายบุญเหลือ เงาถาวรชัย
นักวิทยาศาสตร์ชำนาญการพิเศษ
Contact
Email : Boonlaer.N@chula.ac.th
Tel. : 0-2218-8246