Transmission electron microscopy – TEM (JEM 1400)
Price
Price | |
1400 Instrument usage per hour | 2000 |
1400 Instrument usage per half hour | 1000 |
Photo per shot | 50 |
Price | |
1400 Instrument usage per hour (Other University) | 2200 |
1400 Instrument usage per half hour (Other University) | 1100 |
Photo per shot | 50 |
Price | |
1400 Instrument usage per hour (Government) | 2400 |
1400 Instrument usage per half hour (Government) | 1200 |
Photo per shot | 50 |
Price | |
1400 Instrument usage per hour (Enterprise) | 2600 |
1400 Instrument usage per half hour (Enterprise) | 1300 |
Photo per shot | 50 |
Transmission electron microscopy – TEM
JEOL
Model : JEM 1400
กล้องจุลทรรศน์อิเล็กตรอนชนิดส่องผ่านเป็นเครื่องมือสำหรับวิเคราะห์ลักษณะโครงสร้างของตัวอย่างโดยการถ่ายภาพกล้องจุลทรรศน์อิเล็กตรอนชนิดส่องผ่านประกอบด้วย electron gun, magnetic lens และfluorescece screen โดย electron gun จะปลดปล่อยอิเล็กตรอนจาก filament ที่ถูกทำให้ร้อนโดยการใช้กระแสไฟฟ้าหลังจากนั้นอิเล็กตรอนจะถูกเร่งด้วยความต่างศักย์สูงในช่วงประมาณ 80 ถึง 120 กิโลโวลต์ ทำให้อิเล็กตรอนมีพลังงานเพียงพอที่จะทะลุผ่านตัวอย่างได้ ลำอิเล็กตรอนนี้จะเคลื่อนที่ผ่านเลนส์ชุดแรกที่จะทำหน้าที่รวบรวมอิเล็กตรอนและฉายลงบนตัวอย่าง(Condenser lens) หลังจากที่อิเล็กตรอนกระทบตัวอย่างจะเกิด interaction กับตัวอย่างได้เป็นอิเล็กตรอน 2 กลุ่มคือกลุ่มที่เคลื่อนที่ผ่านตัวอย่างโดยไม่มีการเลี้ยวเบน (Transmission beam) และกลุ่มที่มีการเลี้ยวเบน (Diffraction beam) อิเล็กตรอนทั้ง 2 กลุ่มนี้จะเคลื่อนที่มายัง objective lens แล้วถูกสร้างเป็นภาพ bright-field image, dark-field image และ electron diffraction pattern
Feature
- กำลังขยายสูงสุด 250,000 เท่า
- สามารถถ่ายภาพตัวอย่างชีวภาพและวัสดุศาสตร์
- สามารถวิเคราะห์ธาตุเชิงคุณาภาพและปริมาณ
Application
สามารถถ่ายภาพตัวอย่างทางชีวภาพและวัสดุศาสตร์โดยใช้กำลังขยายตำกว่า 250,000 เท่า
Sample
- ขนาดตัวอย่างที่เหมาะสม ความหนาไม่เกิน 100 นาโนเมตร
- ตัวอย่างต้องไม่มีความชื้น ปราศจากน้ำมัน
- ตัวอย่างผงใช้เพียง 1 g หรือน้อยกว่า
Staff

นางสาว อาภารัตน์ คำปา
เจ้าหน้าที่บริการวิทยาศาสตร์ P7
Contact
Email : apharat.k@chula.ac.th
Tel. 0-2218-8245