การจองคิวเครื่อง SEM

1. ให้ติดต่อเจ้าหน้าที่เพื่อคุยรายละเอียดทาง Line
https://lin.ee/7ZsQZ0x หรือโทร 022188109
2. จากนั้น create order เครื่องตามกำลังขยายที่ใช้ทาง sample-submission-system
3. เมื่อกรอกแล้วให้บอก Order number กับเจ้าหน้าที่ทาง Line https://lin.ee/7ZsQZ0x และส่งตัวอย่างมาที่ STREC Chula พร้อม Order number

 

Scanning Electron Microscope (SEM)

JEOL

Model : JEOL JSM-7610F, Oxford X-Max 20

Scanning electron microscopy (SEM) is a powerful technique designed to examine a material’s surface. In SEM, an electron beam with acceleration voltages of up to 30 kV is focused on the specimen. The interactions between the electron beam and the specimen emit signals from the specimen, and detectors collect them. The recorded signals are combined to form an image [1].

Additional EDS is equipped for qualitative and quantitative, mapping and line scan elemental analysis. EDS limitations: no detection of elements below B, X-ray detection limit 1,000 -2,000 ppm (0.1 – 0.2 %wt.) depending on the element and samples must be no fluids.

JSM-7610F is an ultra high resolution Schottky Field Emission Scanning Electron Microscope which has semi-in-lens objective lens. High power optics can provide high throughput and high performance analysis. It’s also suitable for high spatial resolution analysis. Furthermore, Gentle Beam mode can reduce the incident electron penetration to the specimen, enabling you to observe its topmost surface by using a few hundred landing energy.