Transmission Electron Microscope – TEM (2100)

กล้องจุลทรรศน์อิเล็กตรอนแบบส่องผ่าน

JEOL JEM-2100

วัตถุประสงค์ของการใช้งาน ใช้ดูรูปร่าง ขนาดของตัวอย่างได้ทั้งทางวัสดุและเซลล์เนื้อเยื่อ

Staff

นายบุญเหลือ เงาถาวรชัย

Boonlaer.N@chula.ac.th