Transmission Electron Microscope – TEM (1400)

กล้องจุลทรรศน์อิเล็กตรอนแบบส่องผ่าน

JEOL JEM-1400

วัตถุประสงค์ของการใช้งาน ใช้ดูรูปร่าง ขนาดของตัวอย่างได้ทั้งทางวัสดุและเซลล์เนื้อเยื่อ

Staff

นางสาวอาภารัตน์ คำปา

Apharat.k@chula.ac.th