Scanning Probe Microscope
BRUKER NanoScope IV
หลักการทำงาน : ใช้สำหรับศึกษาลักษณะพื้นผิวตัวอย่าง (Morphology) ที่มีความเรียบมาก ระดับของความขรุขระไม่เกิน 3 ไมครอน วิธีการ คือ ใช้โพรบวัดแสกนไปบนพื้นผิวของตัวอย่าง โดยจะมีแสงเลเซอร์ที่ตกกระทบกับฉากของโพรบวัดแล้วสะท้อนเข้าสู่ detector ซึ่งจะแปรผลแสดงเป็นภาพพื้นผิวตามการเปลี่ยนแปลงระดับของโพรบวัดที่เคลื่อนผ่านพื้นผิว
Staff
นางสาวอารยา เริงสำราญ
Araya.Ro@chula.ac.th
