Scanning Probe Microscope
BRUKER NanoScope IV
หลักการทำงาน : ใช้สำหรับศึกษาลักษณะพื้นผิวตัวอย่าง (Morphology) ที่มีความเรียบมาก ระดับของความขรุขระไม่เกิน 3 ไมครอน วิธีการ คือ ใช้โพรบวัดแสกนไปบนพื้นผิวของตัวอย่าง โดยจะมีแสงเลเซอร์ที่ตกกระทบกับฉากของโพรบวัดแล้วสะท้อนเข้าสู่ detector ซึ่งจะแปรผลแสดงเป็นภาพพื้นผิวตามการเปลี่ยนแปลงระดับของโพรบวัดที่เคลื่อนผ่านพื้นผิว
Instrument rate (อัตราค่าบริการ)
| Instrument rate | Chula | University | Government | Enterprise | |||
| 1 | Instrument usage per hour | 840.00 | 960.00 | 1,080.00 | 1,200.00 | ||
| 2 | Silicon or Nitride or Olympus Oxide-Sharpened Silicon Nitride-probe per sample | 140.00 | 160.00 | 180.00 | 200.00 | ||
| 3 | Etched Silicon or Magnetic Force probe per sample | 315.00 | 360.00 | 405.00 | 450.00 | ||
| 4 | Nano tips for STM or Force modulation etched Silicon Nano probe per sample | 210.00 | 240.00 | 270.00 | 300.00 | ||
| 5 | One diamond-tipped cantilever for nanoindenting scratching per sample | 1,540.00 | 1,760.00 | 1,980.00 | 2,200.00 | ||
| 6 | Electric field cantilever per sample | 140.00 | 160.00 | 180.00 | 200.00 | ||
| 7 | Scanning in fluid per sample | 210.00 | 240.00 | 270.00 | 300.00 | ||
| 8 | Photo or Photo printing per photo | 35.00 | 40.00 | 45.00 | 50.00 | ||
| 9 | Analytical probe per probe | 4,200.00 | 4,800.00 | 5,400.00 | 6,000.00 |
Staff
นางสาวอารยา เริงสำราญ
Araya.Ro@chula.ac.th
