Transmission Electron Microscope – TEM (1400) กล้องจุลทรรศน์อิเล็กตรอนแบบส่องผ่าน JEOL JEM-1400 วัตถุประสงค์ของการใช้งาน ใช้ดูรูปร่าง ขนาดของตัวอย่างได้ทั้งทางวัสดุและเซลล์เนื้อเยื่อ More Info Staff นางสาวอาภารัตน์ คำปา Apharat.k@chula.ac.th